产品中心
覆盖硅片、电池、组件，每一环节皆为效率而生
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N型 |
硅片型号 |
厚度公差/μm |
TTV/μm |
线痕/μm |
电阻率 |
少子寿命/μs |
氧含量/ppma |
碳含量/ppma |
|
N |
182.2*183.75 |
130±8 |
≤20 |
≤12.5 |
0.6-1.6 |
≥1000 |
≤11 |
≤1 |
|
N |
182.2*182.2 |
130±8 |
≤20 |
≤12.5 |
0.6-1.6 |
≥1000 |
≤11 |
≤1 |
|
N |
182.3*210 |
130±8 |
≤20 |
≤12.5 |
0.6-1.6 |
≥1000 |
≤11 |
≤1 |
|
N |
210*210 |
130±8 |
≤20 |
≤12.5 |
0.6-1.6 |
≥1000 |
≤11 |
≤1 |
|
N |
210*105 |
110+15/-10 |
≤25 |
≤12.5 |
0.3-2.1 |
≥1000 |
≤14 |
≤1 |
|
N |
182.3*105 |
130±10 |
≤25 |
≤12.5 |
0.4-1.6 |
≥4000 |
≤13 |
≤1 |
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注：可按客户需求定制硅片的电性能及外观参数指标。 |
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服务热线：0519-81580779 
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